Ferramenta automatizada de medição baseada em imagens

O que faz?

Os transistores são componentes essenciais em circuitos integrados, e o desempenho deles depende da estrutura e da composição do material. Recentemente, dispositivos lógicos CMOS convencionais baseados em silício encontraram limitações técnicas e físicas. Consequentemente, muitas equipes de pesquisa estão explorando novos materiais semicondutores para avançar no campo.
O objetivo do nosso projeto era desenvolver um modelo de inteligência artificial para avaliar a qualidade das amostras de canal obtidas durante a etapa de esfoliação, que é fundamental no processo de fabricação de dispositivos semicondutores com base em materiais novos. Tradicionalmente, essas amostras de canal são observadas em um microscópio óptico ou em um microscópio eletrônico de varredura (SEM, na sigla em inglês), e a largura delas é medida manualmente usando um software científico de medição de imagens.
No entanto, criamos um site que usa a API Gemini e técnicas de processamento de imagem para automatizar esse processo. Os usuários podem fazer upload de fotos de destino para a API e receber imediatamente informações sobre a largura dos canais e a adequação das amostras para a fabricação de dispositivos. Além disso, criamos e treinamos nossos próprios conjuntos de dados para modelos de segmentação com base na arquitetura UNet. Acreditamos que essa inovação vai beneficiar muito as equipes de pesquisa que trabalham com nanodispositivos baseados em novos materiais semicondutores, oferecendo uma grande conveniência.